金融界2024年9月11日消息，天眼查知识产权信息显示，国民技术股份有限公司申请一项名为“带隙基准电路的校准方法、装置、存储介质和电子设备“，公开号CN202410907683.2，申请日期为2024年7月。

　　专利摘要显示，本申请公开了一种带隙基准电路的校准方法、装置、存储介质和电子设备，该方法为：获得多个测试温度的测试次序；确定目标电路在第一温度下的第一测试结果；根据第一测试结果，从多个测试参数中，获得第一集合；确定目标电路在第二温度下的第二测试结果；根据第二测试结果，从第一集合所示各个测试参数中，获得第二集合；基于第二集合中校准精度最高的测试参数，确定为目标电路的校准参数。该方法基于第一测试结果，确定第一集合，以减少第二温度所参与的测试参数的数量，基于第二测试结果，确定第二集合，以减少校准进度计算过程的工作量，从而使得目标电路的校准效率得到明显提升。